2023/08/01(火)「TDDワークショップ by twadaさん」
時間 | 内容 |
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10:00~12:00 | TDD講座・午後演習の説明 |
12:00~13:00 | 昼休憩 |
13:00~16:30 | 1on1レビュー・休憩10分 ×4 |
16:30~17:00 | 代表者発表&全員でレビュー |
17:00~17:15 | 和田さんからの連絡 |
17:15~17:30 | 振り返り会 |
- 整数の閉区間(短めの問題分)
- 整数の閉区間(長めの問題分)
TODO
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テスト容易性: 高
- [x] 数を文字列に変換する
- [x] 1を渡すと文字列"1"を返す -> 仮実装
- [x] 2を渡すと文字列"2"を返す -> 三角測量
- [x] 3の倍数のときは数の代わりに「Fizz」に変換する
- [x] 3を渡すと文字列"Fizz"を返す -> 仮実装 -> 本実装
- [x] 5の倍数のときは数の代わりに「Buzz」に変換する
- [x] 5を渡すと文字列"Buzz"を返す -> 明白な実装
- [ ] 3と5両方の倍数のときは数の代わりに「FizzBuzz」に変換する
- [ ] 1からnまでの数
テスト容易性: 中
- [ ] 1から100までの数
テスト容易性: 低
- [ ] プリントする
テスト容易性(テストの書きやすさ、行いやすさ)
- 観測容易性(テスト対象の実行結果の自動テストからの調べやすさ)
- 制御容易性(テスト対象の動かしやすさ)
- 小ささ(テスト対象のコードやシグネチャの大きさ)
テスト容易性を下げるもの
- 外部入出力
- ネットワーク
- DB
- ファイル
- ランダム性
- 現在時刻
- 巨大なコード、関数