2023/08/01(火)「TDDワークショップ by twadaさん」
| 時間 | 内容 |
|---|---|
| 10:00~12:00 | TDD講座・午後演習の説明 |
| 12:00~13:00 | 昼休憩 |
| 13:00~16:30 | 1on1レビュー・休憩10分 ×4 |
| 16:30~17:00 | 代表者発表＆全員でレビュー |
| 17:00~17:15 | 和田さんからの連絡 |
| 17:15~17:30 | 振り返り会 |
- 整数の閉区間(短めの問題分)
- 整数の閉区間(長めの問題分)
TODO
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テスト容易性: 高
- [x] 数を文字列に変換する
- [x] 1を渡すと文字列"1"を返す -> 仮実装
- [x] 2を渡すと文字列"2"を返す -> 三角測量
- [x] 3の倍数のときは数の代わりに｢Fizz｣に変換する
- [x] 3を渡すと文字列"Fizz"を返す -> 仮実装 -> 本実装
- [x] 5の倍数のときは数の代わりに｢Buzz｣に変換する
- [x] 5を渡すと文字列"Buzz"を返す -> 明白な実装
- [ ] 3と5両方の倍数のときは数の代わりに｢FizzBuzz｣に変換する
- [ ] 1からnまでの数
テスト容易性: 中
- [ ] 1から100までの数
テスト容易性: 低
- [ ] プリントする
テスト容易性（テストの書きやすさ、行いやすさ）
- 観測容易性（テスト対象の実行結果の自動テストからの調べやすさ）
- 制御容易性（テスト対象の動かしやすさ）
- 小ささ（テスト対象のコードやシグネチャの大きさ）
テスト容易性を下げるもの
- 外部入出力
- ネットワーク
- DB
- ファイル
- ランダム性
- 現在時刻
- 巨大なコード、関数