Combined Capstone Design2 (융합캡스톤디자인2)
Overview (개요)
Research for solving Solder void inspection failure when using conventional image processing, using Mask R-CNN. (전통적인 Thresholding Segmentation을 이용한 Solder void 검사에서 발생하는 오류를 Mask R-CNN으로 해결하는 연구)
Project Term (프로젝트 기간)
2021.3. ~ 2021.6.